Лаборатория оснащена рентгеновскими дифрактометрами:

1. Настольный рентгеновский дифрактометр ДР-01 "РАДИАН"

Дифрактометр рентгеновский ДР-01 "РАДИАН" предназначен для проведения рентгенофазового анализа поликристаллических объектов, в частности, может быть использован для решения экспертно-криминалистических задач, таких как исследование электротехнических изделий при решении вопроса об их причастности к возникновению пожара, а также исследование различных твердых материалов, веществ и изделий, имеющих кристаллическую структуру, с целью установления очаговых признаков пожара. Аппарат настольный, лабораторного исполнения. Прибор прост в управлении и малогабаритен.
 

2. Настольный рентгеновский дифрактометр ЭКРОС XRD-9510 

Рентгеновский дифрактометр ЭКРОС XRD-9510 относится к дифрактометрам нового поколения и позволяет проводить исследования в области изучения фазового состава неорганических веществ и материалов, а также оплавлений медных проводников для целей судебной пожарно-технической экспертизы.
Данный дифрактометр дает возможность исследовать образцы в микроколичествах, а наличие двух рентгеновских трубок с различными материалами анода (кобальт и хром) расширяет диапазон исследуемых веществ и материалов (например, дает возможность проводить анализ титаносодержащих материалов, сталей и сплавов).

3.Сканирующий электронный микроскоп Tescan VEGA\\ XMU.

Tescan VEGA – серия высококачественных сканирующих электронных микроскопов, полностью управляемых от персонального компьютера, оснащенных электронной пушкой с катодом Шоттки, предназначенная для работы, как в высоком, так и в переменном вакууме.
Микроскоп позволяет изучать образцы при давлениях в камере от 0,005 Па до 150 Па. Метод СЭМ основан на взаимодействии сфокусированного пучка электронов с поверхностью образца. В результате этого взаимодействия возникают вторичные электроны, отраженные электроны, тормозное и характеристическое рентгеновское излучение и другие типы ответных сигналов. Каждый вид излучения регистрируется своим детектором и используется для исследования тех или иных характеристик образца. Сигнал вторичных электронов (SE-изображение) используются для исследования топографии поверхности. Изображение объекта, полученное с помощью BSE-детектора, показывает четко выраженные различия материалов по атомному весу. При наличии в материале образца неоднородности состава его изображение будет иметь хорошо различимые области с четкими границами между ними. Так, светлые области будут соответствовать материалу с более высоким атомным номером.

Для определения химического состава объектов сканирующий электронный микроскоп оснащен встроенным рентгенофлуоресцентным анализатором. Метод рентгенофлуоресцентного анализа (РФлА) основан на сборе и последующем анализе спектра, полученного путём воздействия на исследуемый материал рентгеновским излучением. Данный метод позволяет определять качественный и количественный элементный состав материалов от Na до U.